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簡要描述:MD-1型粉塵粒度分析儀系統(tǒng)是集光、機、電、計算機為一體的高科技產(chǎn)品,它采用進口半導體激光器,壽命長,單色性好;*機械設(shè)計與加工工藝和微電子集成電路技術(shù),高靈敏度的光電池接收系統(tǒng),全程米氏理論作為基礎(chǔ),結(jié)合優(yōu)異的計算方法,使測試數(shù)據(jù)更加精確,快捷。
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MD-1型粉塵粒度分析
一、產(chǎn)品介紹
本產(chǎn)品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測,能準確測定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀,測定結(jié)果自動儲存,也可由用戶根據(jù)需要選擇,把結(jié)果通過顯示屏或打印機輸出。儀器具有掉電保護功能,可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。
主要用于實驗室測定粉塵粒度分布。
二、產(chǎn)品參數(shù)
(1)粉塵粒度分布測定范圍:0~150µm。測定粉塵累積質(zhì)量篩上分布,粉塵粒度分級為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
(2)測定誤差:d<40µm時,粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%;
(3)工作電源:220VAC。
(4)外形尺寸:430㎜×285㎜×300㎜。
(5)重量:15kg。
三、產(chǎn)品特點
(1)采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測,能準確測定粉塵粒度分布。
(2)讀數(shù)直觀,測定結(jié)果自動儲存,也可由用戶根據(jù)需要選擇,把結(jié)果通過顯示屏或打印機輸出。
(3)儀器具有掉電保護功能,可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。
1.顯微鏡法(Microscopy)
SEM、TEM;1nm~5μm范圍。
適合納米材料的粒度大小和形貌分析。
2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)
沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時,顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡,并且黏滯力服從斯托克斯定律來實施測定的,此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降,且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm~20μm的顆粒。
MD-1型粉塵粒度分析儀
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